对于电路处理盐雾试验箱的含盐浓度配比有要求
盐雾试验箱内产生的单相现象主要有:复合绝缘体在静电场作用下的防腐蚀堆积物,其漏流将增加。当漏电电流达到一定值后,高压流将迅速反向流动,造成短路故障接地装置在瞬间发生短路故障。
单接地体可分为显性地体和隐性地体两类,瓷质复合绝缘体是显性地体的主要表现,其安全事故较易处理。而陶瓷复合绝缘子不破裂,只是使绝缘层下降,陶瓷复合绝缘子表面是有空隙的,一般不易察觉,此类接地装置安全事故较难解决。电气设备耐腐蚀、浸蚀等问题较为突出。在恶劣气候条件下,由于长期暴露于外,承受着日晒、雨淋和腐蚀,设备的外壳在恶劣的气候条件下更容易被侵蚀。该界面具有明显的渗透性,易发生气氧化渗涨、卷曲等接触不良现象。铜接处的浸蚀相对较轻,铝接头的浸蚀较为严重,从铜-铝连接处可以很明显地看到,铝连接处有乳白色斑点,并有烫痕。
对沿海城市而言,耐腐蚀、浸水作用重,是危及输变电线路安全运行、缩短线路使用寿命、增加维修劳动量的重要因素。为实现这一目标,我县在农网改造和城网改造设计过程中,对输变电线路进行抗腐蚀、防腐、防渗等方面提出了更高的要求,从设计方案到工程施工、线路维护等管理方法,尽量采用耐腐蚀工作能力强的新材料。盐雾试验箱十分重要,可减少损失,甚至能起到防损作用,越来越受到用户的青睐。
盐雾试验箱也不例外,或多或少地会有影响其正常工作的因素。日常运行中,经常会遇到耗水量正常且沉降量较小的情况,一般情况下,可先考虑盐水是否有泄漏,在此基础上,还要考虑喷嘴是否有破裂的情况,这样就可以判断出漏斗间有没有堵塞。盐雾测试箱内的温度设定问题,对于盐雾测试箱会产生较大的影响,从而影响测试结果。关于试验设备的沉降量问题,一般设备盐雾沉降量的标准通常为1~2ml/80cm2.h,实验中盐雾沉降标准未达到,因此,毫无疑问,后一段时间会有一些影响,遇到这种情况时,可以在实验中通过盐水的总消耗量进行比较。
盐水浓度是影响盐雾试验箱内盐水浓度的一个因素,标注盐水浓度应为5%,如果盐水浓度太高,则会直接增大试样的腐蚀性。配制盐水后,盐水的PH值应在6.5~7.2之间,此时为中性,但实际工作中,有些盐纯度并不是很纯,又可能由于水质不能达到那个标准,这时需要配置盐水,用PH试纸检测它的酸碱度,一旦盐酸碱度超过这个标准,可以加入少量氯化氢中和,如果低于标准,则需加入一些氢氧化钠中和,使其达到PH值。如果盐水的酸碱度没有达到正常标准,那将会直接影响后续的测试数据。
盐雾试验箱内产生的单相现象主要有:复合绝缘体在静电场作用下的防腐蚀堆积物,其漏流将增加。当漏电电流达到一定值后,高压流将迅速反向流动,造成短路故障接地装置在瞬间发生短路故障。
单接地体可分为显性地体和隐性地体两类,瓷质复合绝缘体是显性地体的主要表现,其安全事故较易处理。而陶瓷复合绝缘子不破裂,只是使绝缘层下降,陶瓷复合绝缘子表面是有空隙的,一般不易察觉,此类接地装置安全事故较难解决。电气设备耐腐蚀、浸蚀等问题较为突出。在恶劣气候条件下,由于长期暴露于外,承受着日晒、雨淋和腐蚀,设备的外壳在恶劣的气候条件下更容易被侵蚀。该界面具有明显的渗透性,易发生气氧化渗涨、卷曲等接触不良现象。铜接处的浸蚀相对较轻,铝接头的浸蚀较为严重,从铜-铝连接处可以很明显地看到,铝连接处有乳白色斑点,并有烫痕。
对沿海城市而言,耐腐蚀、浸水作用重,是危及输变电线路安全运行、缩短线路使用寿命、增加维修劳动量的重要因素。为实现这一目标,我县在农网改造和城网改造设计过程中,对输变电线路进行抗腐蚀、防腐、防渗等方面提出了更高的要求,从设计方案到工程施工、线路维护等管理方法,尽量采用耐腐蚀工作能力强的新材料。盐雾试验箱十分重要,可减少损失,甚至能起到防损作用,越来越受到用户的青睐。
盐雾试验箱也不例外,或多或少地会有影响其正常工作的因素。日常运行中,经常会遇到耗水量正常且沉降量较小的情况,一般情况下,可先考虑盐水是否有泄漏,在此基础上,还要考虑喷嘴是否有破裂的情况,这样就可以判断出漏斗间有没有堵塞。盐雾测试箱内的温度设定问题,对于盐雾测试箱会产生较大的影响,从而影响测试结果。关于试验设备的沉降量问题,一般设备盐雾沉降量的标准通常为1~2ml/80cm2.h,实验中盐雾沉降标准未达到,因此,毫无疑问,后一段时间会有一些影响,遇到这种情况时,可以在实验中通过盐水的总消耗量进行比较。
盐水浓度是影响盐雾试验箱内盐水浓度的一个因素,标注盐水浓度应为5%,如果盐水浓度太高,则会直接增大试样的腐蚀性。配制盐水后,盐水的PH值应在6.5~7.2之间,此时为中性,但实际工作中,有些盐纯度并不是很纯,又可能由于水质不能达到那个标准,这时需要配置盐水,用PH试纸检测它的酸碱度,一旦盐酸碱度超过这个标准,可以加入少量氯化氢中和,如果低于标准,则需加入一些氢氧化钠中和,使其达到PH值。如果盐水的酸碱度没有达到正常标准,那将会直接影响后续的测试数据。
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Day3
《半导体制造技术》读书笔记
第3章 器件技术
1.电子器件.
通用的微芯片器件
电路类型:数字电路、模拟电路
无源元件结构
有源元件结构
2.CMOS器件.
电荷载流子的分类
根据流经材料电流的不同:导体、绝缘体、半导体
电导率与电阻率
电容和介电常数
3.集成电路产品
线性集成电路产品
数字集成电路产品
参考文献:
[1]Quirk,M.,Serda,J.著;韩郑生等译.半导体制造技术[M].北京:电子工业出版社,2015.6:41-63
Day3
《半导体制造技术》读书笔记
第3章 器件技术
1.电子器件.
通用的微芯片器件
电路类型:数字电路、模拟电路
无源元件结构
有源元件结构
2.CMOS器件.
电荷载流子的分类
根据流经材料电流的不同:导体、绝缘体、半导体
电导率与电阻率
电容和介电常数
3.集成电路产品
线性集成电路产品
数字集成电路产品
参考文献:
[1]Quirk,M.,Serda,J.著;韩郑生等译.半导体制造技术[M].北京:电子工业出版社,2015.6:41-63
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Day2
《半导体制造技术》读书笔记
第2章 半导体材料特性
1.分立原子相关物理和化学概念.
原子结构:价电子层、能带理论和离子
元素周期表中的主族元素
离子键和共价键的形成
2.材料分类.
电荷载流子的分类
根据流经材料电流的不同:导体、绝缘体、半导体
电导率与电阻率
电容和介电常数
3.半导体工业中重要的半导体材料.
硅:纯硅(本征硅)、掺杂硅(n型硅和p型硅)
如何选择硅
pn结
可选择的半导体材料:Ⅲ-Ⅴ族化合物和Ⅱ-Ⅵ族化合物
砷化镓半导体材料的优缺点
参考文献:
[1]Quirk,M.,Serda,J.著;韩郑生等译.半导体制造技术[M].北京:电子工业出版社,2015.6:20-40
Day2
《半导体制造技术》读书笔记
第2章 半导体材料特性
1.分立原子相关物理和化学概念.
原子结构:价电子层、能带理论和离子
元素周期表中的主族元素
离子键和共价键的形成
2.材料分类.
电荷载流子的分类
根据流经材料电流的不同:导体、绝缘体、半导体
电导率与电阻率
电容和介电常数
3.半导体工业中重要的半导体材料.
硅:纯硅(本征硅)、掺杂硅(n型硅和p型硅)
如何选择硅
pn结
可选择的半导体材料:Ⅲ-Ⅴ族化合物和Ⅱ-Ⅵ族化合物
砷化镓半导体材料的优缺点
参考文献:
[1]Quirk,M.,Serda,J.著;韩郑生等译.半导体制造技术[M].北京:电子工业出版社,2015.6:20-40
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