光谱共焦传感器测量段差有哪些优势
在各种需要精密测量的领域，除了扫描平面度，粗糙度，还会涉及到段差测量，而立仪科技就是一家专注精密测量的民营高科技的企业：

本期立仪科技小编就带大家一起来了解光谱共焦位移传感器测量段差有哪些优势

1.精度高

光谱共焦位移传感器精度可达亚纳米级别

光谱共焦传感器测量段差有哪些优势

光谱共焦传感器测量段差有哪些优势
2多线测量 工具丰富

快速选取比探针式更多的截面，保证测量稳定性；

功能丰富，自动测量最高最低点、平均值，统计分析。

光谱共焦传感器测量段差有哪些优势

光谱共焦传感器测量段差有哪些优势
3.可测高透明产品

低至0.02%反射率的表面也可以轻松采集点云成像。

4.非接触式测量

非接触式不会刮伤表面，

软质、尖锐产品可测。

深圳立仪科技有限公司成立于2014年，从成立至今，先后研发光谱共焦位移传感器，激光位移传感器，白光干涉仪，膜厚仪，产品应用应用领域，涉及半导体，芯片，3C航天航空，等各种精密仪器制造。更多咨询欢迎关注立仪科技。

胶水断胶测量
检测要求：测量样品间隙胶水有无断胶
本次检测采用立仪光谱共焦控制器，搭配D35A30R4的传感器，产品水平放置在轮廓仪扫描平台，使用轮廓仪对产品表面进行扫描。
在需要检测的区域涂上胶水（如上图），在放在轮廓扫描上设置好相关的参数，进行扫描（如下图），就出现了我们想要的数据了。

立仪科技一家专业生产研发光谱共焦位移传感器，激光位移传感器，白光干涉仪，膜厚仪的公司，产品广泛应用于3C，半导体航空航天等高精度检测。更多详情欢迎关注立仪科技。

膜厚仪具备了哪些优点
随着该设备的技术发展，膜厚仪可广泛应用于石油、化工等领域中，成功的帮助我们提高了检测的精度。膜厚仪主要是用于测量覆膜薄膜、薄片等材料的厚度，测量的范围宽不说，精度还高，具有的主要特点是数据输出、公英制转换、自动断电、任意位置置零等。那么膜厚仪具备了哪些优点?下面由深圳立仪科技公司为大家分享：
　　膜厚仪的主要功能如下：
1、膜厚仪适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃等产品的厚度，因为这些产品都是良好的声音导体，可以实现高精度的检测服务，帮助我们更好的进行产品的检测。
2、膜厚仪还可以配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶，实现高效的产品厚度测量。
3、膜厚仪还具有探头零点校准、两点校准功能。设备使用该功能可对系统检测时产生的误差进行自动修正，提高设备的检测效率。
4、使用该设备还可以反测产品的声速，通过已知的产品厚度来推测产品的声速，帮助用户更好的进行声速的测量。
5、膜厚仪还具有EL背光显示，能够自动散发光线，方便在光线昏暗环境中使用，帮助用户更好的进行观察。
6、膜厚仪还可以实现剩余电量指示，帮助我们实时的显示设备的剩余电力，方便我们更好的进行设备的使用。

　　膜厚仪可以用来检测大规模生产的零部件，可以检测微小区域上的薄镀层，可以测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层，也可以用于全自动测量，如测量印刷线路板等等，更多关于高精度测量知识欢迎关注立仪科技。