KZT LGA84翻盖测试座
探针结构，体积小接触稳定，工作性能更稳定可靠，强度硬、寿命长并且探针可更换，维护简单方便 测试座（夹具）特性测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~155℃；
⑨机械寿命：100000；
探针结构，体积小接触稳定，工作性能更稳定可靠，强度硬、寿命长并且探针可更换，维护简单方便 测试座（夹具）特性测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~155℃；
⑨机械寿命：100000；
KZT LGA84翻盖测试座
探针结构，体积小接触稳定，工作性能更稳定可靠，强度硬、寿命长并且探针可更换，维护简单方便 测试座（夹具）特性测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~155℃；
⑨机械寿命：100000；
探针结构，体积小接触稳定，工作性能更稳定可靠，强度硬、寿命长并且探针可更换，维护简单方便 测试座（夹具）特性测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~155℃；
⑨机械寿命：100000；
KZT LGA84翻盖测试座
探针结构，体积小接触稳定，工作性能更稳定可靠，强度硬、寿命长并且探针可更换，维护简单方便 测试座（夹具）特性测试座（夹具）特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
⑦接触电阻：＜100mΩ；
⑧环境温度：-55℃~155℃；
⑨机械寿命：100000；
探针结构，体积小接触稳定，工作性能更稳定可靠，强度硬、寿命长并且探针可更换，维护简单方便 测试座（夹具）特性测试座（夹具）特性
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②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；
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⑨机械寿命：100000；
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