KZT TO220老化座 碳化硅的散热方面高要求对于模块、电机控制器而言都是一种挑战。封装材质的耐高温直接影响到电源模块的功能和良率,因此,在碳化硅的封装应用中需要对其进行性能测试以保证产品的可靠性和良品率,由凯智通生产的晶体管TO系列TO220(3)-2.54 Open-top下压测试座,很好的解决了耐高温这一难题,其耐高温最高可达175℃,单pin引脚使用多跟探针接触,能保证大功率大电流稳定传输。
KZT TO220老化座 碳化硅的散热方面高要求对于模块、电机控制器而言都是一种挑战。封装材质的耐高温直接影响到电源模块的功能和良率,因此,在碳化硅的封装应用中需要对其进行性能测试以保证产品的可靠性和良品率,由凯智通生产的晶体管TO系列TO220(3)-2.54 Open-top下压测试座,很好的解决了耐高温这一难题,其耐高温最高可达175℃,单pin引脚使用多跟探针接触,能保证大功率大电流稳定传输
KZT TO220老化座 碳化硅的散热方面高要求对于模块、电机控制器而言都是一种挑战。封装材质的耐高温直接影响到电源模块的功能和良率,因此,在碳化硅的封装应用中需要对其进行性能测试以保证产品的可靠性和良品率,由凯智通生产的晶体管TO系列TO220(3)-2.54 Open-top下压测试座,很好的解决了耐高温这一难题,其耐高温最高可达175℃,单pin引脚使用多跟探针接触,能保证大功率大电流稳定传输。
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